检查AFM尖端成像设备

为什么要描述你的AFM技巧?

当在AFM中成像一个新样品时，可能很难知道你是否获得了表面的准确表征。即使样品已经很好地表征，也需要一种独立的方法来评估探针尖端对图像的影响。

一个破碎或畸形的探针尖端导致不准确的样品呈现。从已经很忙的日程中抽出的额外时间可能会被用于进一步的澄清工作，否则本不需要这些工作。更糟糕的是，如果尖端的损坏没有被发现，你的样品的真实地形性质可能会不经意间被忽视。

使用显微镜技术，如扫描电子显微镜(SEM)来寻找尖端的破损，既不方便，也不经济，不适合常规操作。

一个简单，方便的方法来预选你所有的AFM提示，当然是可取的!这样可以节省时间和精力，避免挫折。幸运的是，有一个简单有效的方法来预选你的技巧，并评估使用的技巧。

为什么TipCheck ?

快

TipCheck利用反向成像提供了一种快速、简单的方法来评估新的和使用的提示，而不需要扫描电镜检查。

准确的

TipCheck薄膜的微观结构是理想的检测尖端尖端附近的形态。

方便

该薄膜是在一个硅片上提供的，随时可以放在你的AFM中。说明中还提供了图片示例，以帮助您开始使用自己的示例库。

一个完整的解决方案

通过组合TipCheck示例和SPIP软件，你有一个交钥匙解决方案，正确分析你的AFM数据。