扫描电子显微镜现在是在岩石和矿物的研究采用常规技术。除了提供高清晰度图像，电子显微镜产生的各种各样的通常用于进一步我们地质样品的理解附加信号。其中最主要的是背散射电子检测，二次电子检测，和能量色散型X射线光谱。
- 背散射电子（BSES）的强度直接正比于该样品的平均原子序数。出于这个原因，BSE检测使研究人员能够直接打磨样品中可视化不同阶段和谷物。对比度可以被设置为区分原子序数差异尽可能接近0.1z。BSE检测进一步允许通过区域晶粒尺寸分布，最近邻距离，以及相覆盖自动测量。
- 从材料的绝对表面的二次电子（SES）出现并且通常被用于研究的3维材料的形态。相比于BSE检测器时的高表面灵敏度也导致提高的分辨率和改善的景深。
之后的利益不同的区域已经确定，能量色散X射线光谱仪可以用于量化这些阶段的元素组成。在低于在图像中的每个像素，一个完整的X射线谱被获取时，则该像素是根据最高强度元件着色。
这飞鸿SEM还结合了可用于获取和在大的区域缝合高分辨率马赛克集成机动X / Y台。这些图像可以被进一步处理以测量粒度分布，最近邻距离，和覆盖面积。