陶瓷通常具有影响材料性能的晶粒尺寸和微观结构。扫描电子显微镜(SEM)图像用于量化晶粒尺寸和分布。针对特定的产品要求，可以通过陶瓷工艺参数优化晶界和微观结构。
陶瓷颗粒大小和覆盖
背散射电子探测器(BSD)图像，就像下面先进的陶瓷加热元件材料，天生提供材料对比。这使得陶瓷材料的扫描电镜图像的阈值和分析很容易确定晶粒尺寸和面积。
许多陶瓷材料经过烧结以获得所需的机械性能。使用BSD SEM图像可以量化晶粒尺寸和覆盖范围。使用自动图像映射与Phenom SEM，数据采集可以自动化的工作流程与统计分析。
这是一个由30个独立的SEM图像组成的平铺图像(左下)。总采集时间在3分钟以下。然后使用阈值效应对平铺的图像进行分析，如下图所示，该陶瓷样品显示5%的黑色，78%的灰色，17%的白色。颗粒分布数据可用于优化加工条件，以满足产品要求。
