用扫描电子显微镜(SEM)对颗粒进行分析和表征
了解干粉材料中颗粒的物理特性是药品开发的一个重要方面。任何一种赋形剂的活性药物成分(APIs)的粒径分布往往对产品的性能和可制造性有重大影响。扫描电子显微镜被越来越多地用于研究颗粒的大小，形态和化学成分。
的杰出人才台式扫描电镜包括几个特点，使其成为研究药物颗粒的自然选择:
- 背散射电子检测与自动图像采集结合，允许极高通量的数据采集和基于BSE信号的定量颗粒尺寸。
- 高亮度六硼化铈源产生无与伦比的图像质量，同时保持极长的寿命。
- 集成的EDS探测器与映射能够快速确定粒子组成。
两种类型的探测器通常用于生成SEM图像:反向散射电子(BSE)探测器和二次电子(SE)探测器。BSE探测器在这个应用程序中的主要好处是，不同平均原子数的粒子将在生成的图像中显示不同的亮度。这使得可以从不同颗粒混合物(如辅料混合物)中明确地确定单个颗粒和本体颗粒特征。
赋形剂混合物的自动粒子表征
Phenom SEM被编程自动获取马赛克图像，然后识别和测量每个单独的粒子使用Particlemetric软件下面的图像最初是在5.3 x 3.6 mm的区域以500 nm的像素分辨率获得的。
定量图像处理测量颗粒大小分布
然后完成不同材料的灰度分离和关键特征的绘制。上图中深灰色颗粒的粒径分布较宽，平均圆当量直径为35±31µm。较轻颗粒的平均直径为80±31µm，约束更紧密。完成这种自动采集和后处理的总时间不到20分钟，超过3000个粒子被识别和测量。