加入我们的808展位进行测试驱动器现象代理扫描电子显微镜（SEM）现场。我们还将在展位上有新的Imicro硬度测试仪来缩进。
停下来询问我们的原子力显微镜（AFM），用于快速计量学测量值的3D光学剖面，纳米INDENTERS系统和微机械测试组装系统。我们还提供各种标准和专业的AFM探针。
什么时候：
2016年4月26日，星期二展览时间：10.00am - 6.30pm
2016年4月27日，星期三，展览时间：10.00am - 6.30pm
2016年4月28日，星期四，展览时间：10.00am - 2.30pm
在哪里：
国际博览中心
东入口，一个I-X中心驱动器
克利夫兰，俄亥俄州44135
216-676-6000