结合技术解锁潜力:QSense模块和配件网络研讨会

3月5日,2020年3月5日|新闻类型: 技术:

在研究复杂的表面现象时,通常需要互补技术。结合这些技术在同一设置中同时出于原位测量提供了一种非常有希望的方法。

加入Archana Jaiswal博士为我们的免费网络研讨会,了解如何与其他表面分析技术相结合,例如椭圆形,电化学和显微镜,以改善和更全面地表征表面相互作用和/或反应。

QCM-D提供了不仅仅是质量

采用该技术收集的数据允许实时地定量质量和厚度以及层在表面上的层的粘弹性性质。不仅可以表征最终形成的层,而且还可以遵循表面交互的动态演变,并了解这些如何发生以及为什么。测量的参数还可以提供有关水合水平的信息,以及薄膜膨胀或薄膜塌陷的变化。

遵循动态过程的可能性,例如成膜,薄膜劣化和结构重排成为勘探以及纳米级系统的表征和优化,包括例如生物分子,聚合物,表面活性剂和纳米颗粒。

  • 了解经常在文学中遗漏的实际实验细节
  • 深入了解QCM-D测量是如何执行和分析的
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定制以满足您的应用需求。
QSense模块和配件
日期:3月5日,2020年
时间:12:00 - 下午1:00(东部)
推荐者:Archana Jaiswal,Phd
SR.应用科学家
Archana Jaiswal.

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